Эллипсометры
На сегодняшний день все мы являемся свидетелями эпохальных и удивительных с любой точки зрения открытий, каждое из которых несет в себе потенциал навсегда и коренным образом изменить существующий уклад вещей. Уже несколько раз даже на памяти молодежи произошли постепенные и малозаметные, но от этого не менее глобальные и важные технические революции.
Компьютерная техника шагнула далеко вперед и породила не только сверхпроизводительные и доступные персональные компьютеры, но и множество портативных коммуникативных и мультимедийных устройств, которые по своей вычислительной мощности значительно превосходят самые смелые надежды компьютерщиков прошлого на развитие суперкомпьютеров.
Широкое использование подобных устройств, которые стали результатом эволюции компьютерной техники, миниатюризации и закономерным развитием сотовых телефонов, привело к еще большей интеграции во все аспекты нашей жизни возможностей всемирной информационной сети интернет. Из достаточно скромного по размерам резервного канала связи на случай ядерной войны эта сеть превратилась в глобальное явление, инфосферу, доступ к которой даже был закреплен в списке базовых прав человека. Но столь серьезный рост потребностей в сверхсовременной электронике потребовал более совершенный набор инструментов для ее производства и для проведения исследований. Все меньшими становились размеры узлов этой электроники, пока не вышли за границу возможностей анализа с помощью человеческих органов чувств даже с применением инструментов.
Но выход был найден в тех же новых технологиях. Появилось такое высокоточное измерительное оборудование, как эллипсометр, увидеть который можно по следующей ссылке http://www.ru.all.biz/elipsometry. Принцип действия этого прибора основан на измерении поляризации света после его отражения от исследуемой поверхности. Изучаться может твердое тело, сверхтонкая и многослойная пленка, граница разделения двух сред. Это дает широкие возможности для работы в области микроэлектроники, в которой давно уже расстояния измеряются нанометрами. При производстве полупроводниковых приборов и интегральных схем, где таких приборов может быть неимоверное количество на малой площади, совершенно незаменимой будет возможность исследовать структуру поверхности и глубинных слоев пленки. Этот же методы используется в производстве экранов для современной техники.